2、平面度測(cè)量方法如下：大部分都是用塞尺測(cè)量。塞尺用于填充整個(gè)工件邊緣，以獲得測(cè)量數(shù)據(jù)。這種方法弊端很大，因?yàn)槿呷贿M(jìn)工件中間，導(dǎo)致中間部分的數(shù)據(jù)測(cè)不出來(lái)。而且塞尺容易刮傷工件，尤其是玻璃工件，更容易刮傷。

3、常用的平面度檢測(cè)方法包括光學(xué)檢測(cè)、機(jī)械測(cè)量和電子檢測(cè)等。光學(xué)檢測(cè)方法利用激光干涉原理或投影儀原理，通過(guò)對(duì)物體表面反射或投射光的變化進(jìn)行測(cè)量，從而得到表面的平整度信息。