芯片、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管等。除電阻器外，所有半導(dǎo)體器件都可能由于以下原因而損壞:

元器件出廠就有問(wèn)題，元器件死，電壓擊穿。

以下是關(guān)于ECU損壞原因的相關(guān)介紹:

部件出廠時(shí)就有問(wèn)題:

可能體現(xiàn)在服役時(shí)間短，但就目前半導(dǎo)體元器件的制造水平而言，這種概率相當(dāng)小。

組件壽命終止:

有一個(gè)常識(shí)大家應(yīng)該知道，電子元器件即使溫度升高，即使在正常允許的工作范圍內(nèi)，電子元器件的使用壽命也會(huì)明顯降低。但當(dāng)超過(guò)正常工作溫度范圍時(shí)，一些器件如MOS管的內(nèi)阻會(huì)變大，進(jìn)而導(dǎo)致溫升更高，形成惡性循環(huán)。

電壓擊穿:

任何電子元件都有一定的工作電壓范圍和耐受擊穿電壓。當(dāng)電壓高到一定程度時(shí)，器件中原本不導(dǎo)電的部分變成導(dǎo)電的。ECU的內(nèi)部電路受到來(lái)自外部的高電壓的影響，并通過(guò)線束連接器進(jìn)入。一個(gè)設(shè)計(jì)良好的ECU是為了防止這些可能的危害，有過(guò)壓保護(hù)電路，但沒(méi)有這些設(shè)計(jì)的電路幾乎不可能實(shí)用。